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扫描电化学显微系统（ＳＥＣＭ）

交流扫描电化学显微镜系统（ａｃ－ＳＥＣＭ）

间歇接触扫描电化学显微镜系统（ｉｃ－ＳＥＣＭ）

微区电化学阻抗测试系统（ＬＥＩＳ）

扫描振动点击测试系统（ＳＶＥＴ）

电解液微滴扫描系统（ＳＤＳ）

交流电解液微滴扫描系统（ａｃ－ＳＤＳ）

扫描开尔文探针测试系统（ＳＫＰ）

非触式微区形貌测试系统（ＯＳＰ）

出色的性能

快速***的闭环定位系统为电化学扫描探针纳米***研究的需求而特别设计。结合Ｕｎｉｓｃａｎ　独特的混合型３２－ｂｉｔ　ＤＡＣ技术，用户可以选择合适实验研究的***佳配置

先进和灵活的工作平台

系统可提供９种探针技术，使得Ｍ４７０成为全球***灵活的电化学扫描滩镇工作平台。

全面的附件

７种模块可选，３种不同电解池，各式探针，长距显微镜以及后处理数据分析软件。

Ｍ４７０新产品特征

ＳＥＣＭ自动处理曲线

ＳＥＣＭ用户自定义处理曲线步长变化

高分辨率读取

手动或自动调节相位

Ｍ４７０同时具备如下特点：

倾斜校正

Ｘ或Ｙ曲线相减（５阶多项式）

２Ｄ或３Ｄ快速傅里叶变化

实验，探针移动和区域绘图的自动排序

图形实验测序引擎（ＧＥＳＥ）

支持多区域扫描

所有实验多个数据视图

峰值分析

Ｍ４７０是由Ｕｎｉｓｃａｎ仪器开发的第四代扫描探针系统，具有更高规格和更多探针技术。

Ｍ４７０技术参数

工作站（所有技术）

扫描范围（ｘ，ｙ，ｚ）　　　　　　　　　　　大于１００ｎｍ

扫描驱动分辨率　　　　　　　　　　　　　　***高０．１ｎｍ

闭环定位　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　线性零滞后编码器，直接实时读出ｘ，ｚ和ｙ位移

轴分辨率（ｘ，ｙ，ｚ）　　　　　　　　　　　　２０ｎｍ

***大扫描速度　　　　　　　　　　　　　　　　　１２．５ｍｍ／ｓ

测量分辨率　　　　　　　　　　　　　　　　　　　３２－ｂｉｔ解码器＠高达４０ＭＨｚ

压电（ｉｃ－和ａｃ－扫描探针技术）

振动范围　　　　　　　　　　　　　　　　２０ｎｍ～　２μｍ峰与峰之间１ｎｍ增量

***小振动分辨率　　　　　　　　　　０．１２ｎｍ（１６－ｂｉｔ　ＤＡＣ，４μｍ）

压电晶体伸展　　　　　　　　　　　　１００μｍ

定位分辨率　　　　　　　　　　　　　　０．０９ｎｍ（２０－ｂｉｔ　ＤＡＣ　，１００μｍ）

机电

扫描前端　　　　　　　　　　　　　　　　５００×４２０×６７５ｍｍ（Ｈ×Ｗ×Ｄ）

扫描控制单元　　　　　　　　　　　　２７５×４５０×４００ｍｍ（Ｈ×Ｗ×Ｄ）

功率　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　２５０Ｗ

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